X射線檢測科技

X射線檢測科技(X-ray Inspection)是一種非破壞性的檢測方法,可以通過利用X射線穿透物體的特性,對物體內部的結構、組成和缺陷進行檢測和分析。

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在電子製造行業中,X射線檢測科技廣泛應用於印刷電路板(PCB)、封裝晶片、BGA晶片、電晶體等電子元器件的檢測和分析中,用於檢測這些元器件的焊接質量、接觸不良、氣泡、裂紋、內部結構等缺陷,以確保產品品質和可靠性。


具體來說,X射線檢測科技可以檢測以下缺陷和錯誤:

1.焊接質量:檢測焊點的質量,如焊接缺陷、虛焊、不良焊接等。
2.接觸不良:檢測元器件與PCB之間的接觸狀態是否良好。
3.缺陷檢測:檢測元器件內部的缺陷,如氣泡、裂紋、空洞等。
4.元器件結構:檢測元器件內部結構、引脚等。
5.性能測試:檢測元器件的效能,如電容量、電阻值等。


通過使用X射線檢測科技,可以實現高精度、高效率、高準確度的檢測和分析,减少人為因素導致的錯誤和缺陷,提高產品品質和可靠性。